鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

鍍層測(cè)厚儀在使用前為減少測(cè)量的誤差，可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：

1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。

2、按下按鍵，屏幕會(huì)提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。

4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測(cè)試片放在調(diào)零板上測(cè)量。測(cè)量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片的誤差范圍之內(nèi)，則說(shuō)明儀器可以正常使用了。

鍍層測(cè)厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應(yīng)測(cè)量的原理。主要用于測(cè)量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度?？梢詿o(wú)損的測(cè)量出涂鍍層的厚度。

廣泛應(yīng)用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結(jié)構(gòu)、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量管控。

鍍層測(cè)厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì)，所以在購(gòu)買時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測(cè)到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測(cè)到3mm。

在測(cè)量以mm為單位的鍍層厚度時(shí)，大量程的鍍層測(cè)厚儀LS223就可以滿足您的測(cè)量需求。客戶在選購(gòu)時(shí)可以根據(jù)測(cè)量材料的厚度來(lái)選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測(cè)厚儀90天無(wú)理由退換貨，不滿意都可以退。

我們?nèi)w員工以飽滿的熱情，期待與五湖四海的新老朋友合作。一直秉承滿足用戶需求，至真至誠(chéng)，著眼現(xiàn)在，放眼未來(lái)的經(jīng)營(yíng)理念。